こんにちは＾＾


トミーさんはどういった評価方法を使われているのでしょうか？？ちょっと興味があります。

自分は今、試料の結晶性を調べるために
ＴＥＭの回折像とにらめっこしています。
他大学の先生にお願いしてとっていただき、
データもでたのですが、どういった情報をあらわしているのか理解できず、四苦八苦してます＾＾；

お互いおそらく似たような研究をしているのかなと思います。
いつかトミーさんの研究について知りたいなと思います＾＾

【2008/11/23 21:05】 URL | 潤 #/5UrdHk2 [ 編集]

どうも、お久しぶりです。
ドットなら発光or吸収スペクトルのエネルギーシフト量から径を見積もるとか、薄膜なら反射スペクトルからフィッティングで厚さや粗さを見積もるとかですかね？
私はドットの分光メインでやってる人間なので、アドバイスになるかどうか分かりませんが、系が疑わしいときは、標準サンプル(既に物性が分かっているサンプル)を用いてまず系の評価をして、その後に測りたいサンプルを測ると良いです。
系もサンプルも不確定だと考えることが多すぎますし。

【2008/11/25 10:17】 URL | すのぶ #- [ 編集]

潤さん、

コメントありがとうございます！

＞トミーさんはどういった評価方法を使われているのでしょうか？？

私は今はPLをメインに評価しています。

＞データもでたのですが、どういった情報をあらわしているのか理解できず、四苦八苦してます＾＾；

TEM！！私もTEMには四苦八苦しています。確かに情報整理が初心者には難しいですよね。私は「あ〜綺麗だなぁ」くらいしか思ってないので、非常にもったいないと反省しています(苦笑)

＞お互いおそらく似たような研究をしているのかなと思います。
＞いつかトミーさんの研究について知りたいなと思います＾＾

そんな風に言っていただけて、とても嬉しいです。色々、記述をあえてひかえなければいけないことがあるので、ふんわりとしたことしか書いていませんが、こんなのでよろしければまたコメントをよろしくお願いします。

【2008/11/29 12:01】 URL | トミー #RgCMnk.Q [ 編集]

すのぶさん、

お久しぶりです！お元気ですか？

>私はドットの分光メインでやってる人間なので、アドバイスになるかどうか分かりませんが、系が疑わしいときは、標準サンプル(既に物性が分かっているサンプル)を用いてまず系の評価をして、その後に測りたいサンプルを測ると良いです。

具体的にアドバイスくださって、ありがとうございます。そうですよね、標準サンプルをなめてはいけませんよね…私は今は薄膜のPLをメインにやっています。すのぶさんはドットの分光なのですね。ドットは成長が難しそうで、学会に行く度に「すごいなぁ」と思っています。

また色々教えていただけたら嬉しいです！

【2008/11/29 12:06】 URL | トミー #RgCMnk.Q [ 編集]